<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
 		<rss version="2.0"><channel>
 		<title><![CDATA[Nanotechnologie]]></title>
 		<description><![CDATA[Artykuły]]></description>
 		<link>http://www.nano.pumeo.com/</link>
 		<copyright><![CDATA[Copyright Nanotechnologie]]></copyright>
 		<generator>sNews CMS</generator><item>
			<title><![CDATA[Granice i bariery rozwoju]]></title>
			<description>
				<![CDATA[
				<strong>Nanotechnologie </strong>
– <strong>Granice i bariery rozwoju</strong>
<br />
Przyczyny nasycania się krzywej logistycznej: brak wiedzy, zmiana zainteresowań, ograniczenia technologiczne, ograniczenia ekonomiczne<br />
<strong>Hierarchia ograniczeń:</strong>
 fundamentalne, przyrządowe, materiałowe, układowe, systemowe<br />
<strong>Problemy skalowania tranzystora MOS:</strong>
 <br />
(a) upływność prądu w stanie wyłączenia Ioff I drenu, I bramki) <br />
(b) niewspółmierny do skalowania wzrost prądu nasycenia Idsat (małe ruchliwości nośników, rezystancje szeregowe) <br />
(c) rozrzut wartości VT <br />
(d) niewspółmierny do skalowania wzrost szybkości (C i R pasożytnicze, parametry transportu nośników)<br />
<strong>Ograniczenia fundamentalne:</strong>
 im większa szybkość działania sprzętu, tym bliżej musi być umiejscowiona pamięć, z której układ będzie korzystał, w pewnym momencie wymagana odległość okaże się mniejsza niż wielkość chipu, w którym znajduje się układ; wykonanie pojedynczej operacji logicznej wymaga  energii; zatem w ciągu sekundy można wykonać maksymalnie:  operacji; do ograniczeń należy też ilość zużywanej mocy przez komputer, w pewnym momencie okaże się, że obecne systemy chłodzenia nie dadzą rady odprowadzić ilości ciepła wytwarzanej w układach; <br />
<strong>Ograniczenia przyrządowe:</strong>
 zastosowanie w tranzystorach warstwy krzemu SOI pozwala na zmniejszenie długości bramki; jednak wymaga się aby warstwa krzemu była w jak największym stopniu gładka, co już jest zadaniem niełatwym; innymi sposobami jest budowa tranzystora trójbramkowego lub tranzystora trójwymiarowego (bramka i metal są owinięte wokół rurki, która jest drenem i źródłem)<br />
				]]>
			</description>
			<pubDate>Fri, 12 Dec 2008 11:26:47 +0000</pubDate>
			<link>http://www.nano.pumeo.com/nanotechnologie/granice-i-bariery-rozwoju/</link>
			<guid>http://www.nano.pumeo.com/nanotechnologie/granice-i-bariery-rozwoju/</guid>
			</item><item>
			<title><![CDATA[Modyfikacje warstw]]></title>
			<description>
				<![CDATA[
				MODYFIKACJE:<br />
- PLE (Phase-Locked Epitaxy)  warstwy GaAs i AlAs nanoszone na przmian.<br />
-Surfactant Assisted Growth -  w celu minimalizacji temp podłożą wspomaga się wzrost związkami powierzchniowo czynnymi.<br />
- MOMBE (Metalorganic MBE),  - CBE (Chemical Beam Epitaxy),<br />
- MEE (Migration Enhanced Epitaxy), -ALE (Atomic Layer Epitaxy),<br />
-OMCVD (Organometallic CVD) – Związki organometaliczne: związki, w których atomy metalu są bezpośrednio związane z atomami węgla.<br />
- MOCVD (Metalorganic CVD) – Związki metaloorganiczne: zasadniczo związki zawierające atomy metalu przyłączone do organicznych rodników. Wariant krystalizacji warstw z fazy gazowej wykorzystujący jako prekursory związki metaloorganiczne. Synteza materiału (w postaci mono-, polikrystalicznej bądź amorficznej) następuje w wyniku reakcji chemicznych pomiędzy lotnymi reagentami metaloorganicznymi zawierającymi składniki krystalizowanej warstwy.<br />
MOZLIOWSCI: - diody (tunelowe, Gunna, PIN, rezonansowo-tunelowe, Schottky’ego, elektroluminescyjne), tranzystory polowe (np.HEMT),  tranzystory bipolarne (np.HBT), układy scalone, lasery, fotokatody, baterie słoneczne, detektory podczerwieni.<br />
OBNIŻONE CIŚNIENIE pozwala na: - redukcję prawdopodobieństwa zderzeń skutecznych między molekułami reagentów w trakcie ich transportu do komory reakcyjnej,  - ograniczenie zjawiska konwekcji -epitaksja kontrolowana jest przez kinetykę procesów powierzchniowych.<br />
PYROLIZA PREKURSORÓW>>adsorpcja reagentów na powierzchni podłoża>>reakcje chemiczne prowdzące do krystalizacji warstwy>>wzrost warstwy>> desorpcja zbędnych produkótw reakcji.<br />
GRUBOŚĆ WARSTWY GRANICZNEJ – zależy od współczynnika dyfuzji, lepkości gazu i prędkośći gazu w reaktorze.<br />
GŁÓWNY PROBLEM: niska stabilność termiczna i czasowa związków metaloorganicznych (polimeryzacja, hydroliza itp.)<br />
MODYFIKACJE: 1. MO CVD ze źródeł jednoskładnikowych: proszki, pręty, roztwory (w rozpuszczalnikach organicznych, np. w heksanie) odparowywanie „błyskowe” niewielkich ilości prekursora w rozgrzanych do wysokich temperatur parownikach<br />
2. Pulsed Injection MOCVD: impulsowe dozowanie niewielkich (~ mg) dawek roztworów prekursorów do parownika<br />
				]]>
			</description>
			<pubDate>Fri, 12 Dec 2008 11:23:52 +0000</pubDate>
			<link>http://www.nano.pumeo.com/nanotechnologie/modyfikacje-warstw/</link>
			<guid>http://www.nano.pumeo.com/nanotechnologie/modyfikacje-warstw/</guid>
			</item><item>
			<title><![CDATA[Ultracienkie warstwy]]></title>
			<description>
				<![CDATA[
				Przykłady procesów wytwarzania ultracienkich warstw:<br />
_ MBE (Molecular Beam Epitaxy), Proces krystalizacji warstw z wiązek molekularnych (lub atomowych), padających w ultrawysokiej próżni (p < 10-7 Pa) na podgrzewane podłoże. Bardzo ważnym parametrm jest czystość, którą zapewnia duża próżnia. Procesy dyfuzja powierzchniowa, dyfuzja międzywarstwowa, desorpcja.<br />
KOMORKI EFUZYJNE:<br />
*odpowiedni dobór materiałów<br />
*kontrola tempretatury<br />
*geometria stożkowa<br />
               -bardziej stabilny rozkład kątowy wiązki w miarę zużywania wsadu<br />
               -redukuje samoogniskowanie się wiązki<br />
               -przy wiekszych plytkach wymagana jest wieksza odleglosc od źródła.<br />
EFUZYJNE MODUŁOWE:<br />
*wytwarzanie wiazek z matriałów o dużej prężności par<br />
*wytwarzanie wiązek gdy potrzebny jest nadmiar koncentracji danego związku.<br />
2-MODUŁOWE<br />
*moduł z wsadem – na zewnątrz układu próżniowego<br />
*moduł z dyszą w obszarze próżni.<br />
PRZESŁONY: odpowiedni dobór materiału, odpowiednia odległość od wylotu komórki efuzyjnej, ułożenie pod odpowiednim kątem.<br />
MONTAŻ PŁYTEK PODŁOŻOWYCH:<br />
>>Kontakt In zalety: - dobre sprzężenie cieplne podłoże-grzejnik,- ciekły,- niska prężność par dla T < 600oC<br />
wady: - wzrost prężności par dla T > 600oC;- konieczność czyszczenia spodu podłoży z In po procesie epitaksji; <br />
>>mocowania i grzejniki o specjalnej geometrii z przekładkami BN<br />
POMIAR TEMPERATURY: termopary, pirometry optyczne IR<br />
RÓWNOMIERNY ROZKŁAD wiązki dzięki rotacji panelu z podłożami.<br />
KONTROLA PROCESU EPITAKSJI >>>> RHEED<br />
- monitorowanie tempa wzrostu warstwy,<br />
- badanie morfologii powierzchni,<br />
- badanie struktury powierzchni<br />
- ze względu na duży kąt padania wiązki e` nie zakłóca toru wiązek molekularnych, ale: niewskazane dłuższe naświetlanie rosnącej warstwy >> stosowanie podłoży kontrolnych<br />
				]]>
			</description>
			<pubDate>Fri, 12 Dec 2008 11:21:19 +0000</pubDate>
			<link>http://www.nano.pumeo.com/nanotechnologie/ultracienkie-warstwy/</link>
			<guid>http://www.nano.pumeo.com/nanotechnologie/ultracienkie-warstwy/</guid>
			</item><item>
			<title><![CDATA[Rozdzielczość układów optycznych]]></title>
			<description>
				<![CDATA[
				Rozdzielczość układów optycznych: Przyczyną skończonej rozdzielczości układow optycznych jest falowa natura promieniowania elektromagnetycznego (a więc i światła). Skutkiem tego jest jego dyfrakcja (ugięcie), gdy przechodzi w pobliżu krawędzi, a także przez otwory o rozmiarach porownywalnych z lambda. W rezultacie obraz krawędzi oraz takich otworow ma charakter prążkow lub pierścieni dyfrakcyjnych, przez co staje się rozmyty.<br />
Poprawa parametrów fotolitografi projekcyjnej przez:<br />
-obniżanie k1 - w ogólności zależy od własności układu projekcyjnego (techniki projekcji, parametrów elementów optycznych, własności fotorezystu, ...)<br />
-zwiększanie NA, ale maleje DOF. Można to zrobić przez zwiększanie n (parametr ośrodka przez który naświetlamy). Osiągamy to w fotolitografii imersyjenej w której zamiast powietrza zastosowano wode.<br />
-redukcja lambdy – zastosowanie nowych lamp rtęciowych.<br />
<br />
Epitaksja: warstwa narasta tylko w jednym kierunku, w „górę”, poczynając od powierzchni podłoża.<br />
Endotaksja: warstwa narasta w dwóch kierunkach, od podłoża (jak w epitaksji), ale również w jego głąb.<br />
Techniki PVD: Proces syntezy materiału w wyniku reakcji/procesów chemicznych zachodzących pomiędzy lotnymi prekursorami. Reakcje te to dysocjacja i/lub reakcje chemiczne aktywowane termicznie, promieniowaniem elektromagnetycznym bądź w środowisku plazmy. Mają one charakter homogeniczny (przebiegają w objętości gazu) i/lub heterogeniczny (zachodzą na lub w bezpośrednim sąsiedztwie (zazwyczaj grzanego) podłoża). Wymagane jest odpowiedznio niskie ciśnienie.<br />
Powierzchnia wicynalna – powierzchnia tarasowa powstała wskutek cięcia lub polerowania podłoża pod kątem nieco innym (dziesiąte części stopnia) do płaszczyzny krystalograficznej – praktycznie każda powierzchnia. Celowe wprowadzanie wicynalności, bo • proces bardziej efektywny • lepsza jakość warstw. Najkorzystniejszym energetycznie miejscem wbudowywania się atomów jest krawędź tarasu. Im węzszy taras, tym mniej absorbowanych atomów na jednostke czasu, to wolniejszy i bardziej stabilny rozrost progu. Im wiekszy to analogicznie, ale wystepuje nukleacja wysp.<br />
				]]>
			</description>
			<pubDate>Fri, 12 Dec 2008 11:18:58 +0000</pubDate>
			<link>http://www.nano.pumeo.com/nanotechnologie/rozdzielczosc-ukladow-optycznych/</link>
			<guid>http://www.nano.pumeo.com/nanotechnologie/rozdzielczosc-ukladow-optycznych/</guid>
			</item><item>
			<title><![CDATA[Techniki litograficzne]]></title>
			<description>
				<![CDATA[
				<strong>a) fotolitografia klasyczna,<br /></strong>

Podłoże, naniesienie warstwy (SiO2), naniesienie fotorezystu (pozytywowy-zaświtlone obszary ulegają wypłukaniu pod wpływem wywoływacza, negatywowy – obszary zaświetlone ulegają utwardzeniu), suszenie wstępne (60-100st), centrowanie maski, naświetlanie fotorezystu (tryb kontaktowy, zbliżeniowy, projekcyjny), wywołanie fotorezystu, hartowanie (120-180st), inne procesy, usunięcie fotorezystu.<br />
<strong>b) fotolitografia w głębokim i bardzo głębokim ultrafiolecie<br /></strong>

<strong>c) modyfikacje fotolitografii klasycznej:<br /></strong>

- litografia z korekcją efektów bliskości – uwzględnie na poziomie projektowania masek efektów związanych z odwzorywaniem obiektów porównywalnych z lambda (wskutek dyfrakcji krawędzie obrazów ulegają rozmyciu),<br />
- litografia z przesunięciem fazowym – wykorzystanie masek poprawiających kontrast wykorzystując zjawisko destruktywnej interferencji fal.<br />
- litografia pozaosiowa – polega na zbieraniu części prążków dyfrakcyjnych wyższych rzędów, które są tracone w osiowej. Bardzo ważna jest tu orientacja maski względem źródła światła oraz konieczne są obroty masek i wilokrotne naświetlanie lub stosowanie apertur o różnych kształtach (pierscieniowa, kwadrapulowa, dipolowa, custom).<br />
- litografia immersyjna – polega na wprowadzeniu pomiędzy maske a plytke wody, która zwiększa rozdzielczość..<br />
<strong>d) litografia wiązką elektronów</strong>
 – przy dużych napieciach przyspieszających mamy długość fali znacznie mniejsza od anksztrema; wiązkę trzeba skupiać; finalna średnica wiązki – kilka nm o owalnym kształcie, ale stosując przesłony można ją modyfikować; odchylanie elektrostatyczne lub magnetyczne; wiążka elektronów uszkadza strukturę fotorezystu; naświetlanie rastrowe (wszystko piksel po piksel) lub wektorowe (tylko obszar odwzorowywany); układy naświetlające: o kształtowanej wiązce, o zmiennie kształtowanej wiązce, system projekcyjny; należy dobrać odpowiednią energię elektronów, aby zminimalizować efekty niedoświetlenia oraz prześwietlenia.<br />
<strong>e) litografia rentgenowska</strong>
, - długośc fali rzędu pojedynczych anksztremów. Ograniczenia wynikają z quasi-punktowego charakteru źródeł (efekty przesunięć i półcienia).<br />
<strong>f) litografia wiązką jonów</strong>
 – żródła jonów: gazowe, ciekłe metaliczne i plazmowe. Wiązka jonów pozwala na obróbkę dowolnego materiału. Analogicznie do elektronowej.<br />
<strong>g) atomowa litografia optyczna.</strong>
<br />
Miękka litografia: Druk mikrokontaktowy, Nanowdrukowywanie, Odciskanie, Druk nanotransferowy.<br />
Techniki wykorzystujące mikroskopię bliskich oddziaływań.<br />
<br />
<strong>Fotorezyst pozytywny: <br /></strong>

<strong>ZALETY</strong>
:<br />
- wysoka rozdzielczość,<br />
- niektore z fotorezystow (np. DQN) są odporne na działanie plazmy,<br />
- wywoływacze oparte na roztworach wodnych (ale związkow alkalicznych, więc mogą działać  drażniąco na skórę, są też agresywne dla metali)<br />
- powszechnie dostępne<br />
<strong>WADY:</strong>
 - często nienajlepsza adhezja, - słaba fotoczułość, - fotorezysty PMMA mało odporne na działanie plazmy (częściowo można temu zaradzić nanosząc je grubiej); - droższe od negatywowych<br />
<strong>Fotorezyst negatywny:<br />
 ZALETY:<br /></strong>

- wysoka fotoczułość, - dobra adhezja do podłoży, - bardziej odporne chemicznie, - tanie,<br />
<strong>WADY</strong>
:- gorsza rozdzielczość niż pozytywowych (> 1,5 mm),<br />
- toksyczne wywoływacze,<br />
- w trakcie wywoływania „puchną”,<br />
- zabrudzenia na maskach generują dodatkowe obszary cienia powodujące po działaniu wywoływacza powstawanie „pinholi”.<br />
UWAGI DODATKOWE:<br />
-rożne fotorezysty dla rożnych długości fali promieniowania naświetlającego (UV, DUV, EUV, wiązka elektronow, jonow)<br />
- ważny parametr – kontrastowość (zdolność do rozrożniania obszarow przeźroczystych i nieprzeźroczystych maski)<br />
- czułość na parametry procesow suszenia wstępnego, wywoływania, hartowania oraz dalszych procesow, w których służą jako maski,<br />
- stopień jednorodności grubości fotorezystu (niejednorodności mogą skutkować prześwietleniem lub niedoświetleniem fotorezystu, a więc i zniekształceniem odwzorowania).<br />
				]]>
			</description>
			<pubDate>Fri, 12 Dec 2008 11:15:20 +0000</pubDate>
			<link>http://www.nano.pumeo.com/nanotechnologie/techniki-litograficzne/</link>
			<guid>http://www.nano.pumeo.com/nanotechnologie/techniki-litograficzne/</guid>
			</item></channel></rss>